КАФЕДРА ФИЗИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЯ
МОСКОВСКОГО ИНСТИТУТА СТАЛИ И СПЛАВОВ

Строение вещества в конденсированном состоянии обычно рассматривается как иерархическая система некоторых структурных элементов, различающихся часто не только свойствами, но и внутренней (атомной) структурой. Многие свойства материалов находятся в строгой зависимости от характеристик атомно-кристаллической структуры и дефектов кристаллической решетки, от морфологических характеристик зерен и характеристик гетерогенности.

В настоящее время методы электронной микроскопии - просвечивающей и сканирующей - перекрывают весь диапазон необходимых в исследовательской и аналитической практике увеличений: от фрактографии изломов, до атомной структуры. Наиболее важным (и обязательным) в практике научных исследований является метод просвечивающей электронной микроскопии. Универсальность этого метода определяется не только уникальной шириной диапазона увеличений, но и тем, что характеристики микроструктуры дополняются характеристиками элементного состава в самых малых объемах и кристаллоструктурными характеристиками для тех же объемов.

Метод сканирующей (растровой) электронной микроскопии особенно важен в связи с тем, что соединяет решение собственно микроскопических задач с анализом химического состава в микрообъемах.

Метод световой микроскопии в последний годы дополнен специальными методами создания оптического контраста с высоким разрешением " по вертикали" (порядка 1 нм).

В курсе излагаются: общие вопросы теории микроскопии, включая теории формирования контраста изображения в электронных и световых лучах, анализ дифракционных картин в электронографии (микродифракция), количественные (компьютерные) методы в описании микроструктур, металлографический анализ при использовании разных методов микроскопии и принципы выбора метода исследования. Курс включает также ознакомление с безлинзовыми системами микроскопов высокого разрешения (ионный проектор, туннельный и атомно-силовой микроскопы).